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Workload-aware static aging monitoring of timing-critical flip-flops

Vijayan, Arunkumar; Kiamehr, Saman; Oboril, Fabian; Chakrabarty, Krishnendu; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/ASPDAC.2017.7858316
ISBN: 978-1-5090-1558-0
KITopen ID: 1000068495
Erschienen in 22nd Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), Chiba, Japan, 16–19 January 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 176–181
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