Workload-aware static aging monitoring of timing-critical flip-flops
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5090-1558-0 KITopen-ID: 1000068495 |
| Erschienen in | 22nd Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), Chiba, Japan, 16–19 January 2017 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 176–181 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |