KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

The influence of geometrical deviations of electrical machine systems on the signal quality of the variable reluctance resolver

Neidig, N.; Werner, Q.; Balluff, M.; Naumoski, H.; Doppelbauer, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Elektrotechnisches Institut (ETI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/EDPC.2016.7851308
ISBN: 978-1-5090-2908-2
KITopen ID: 1000069047
Erschienen in 6th International Electric Drives Production Conference (E/DPC), Nürnberg, November 30 - December 1, 2016. Proceedings
Verlag IIEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 14-21
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page