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Investigation of nanostructure phase composition and field emission properties in the Ge/Si(100) system

Nepijko, S. A.; Sapozhnik, A. A.; Naumovets, A. G.; Kozyrev, Yu N.; Klimenkov, M.; Protsenko, S. I.; Odnodvorets, L. V.; Protsenko, I. Yu



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.21272/jnep.8(4(2)).04067
ISSN: 2077-6772
KITopen ID: 1000069167
Erschienen in Zurnal nano- ta elektronnoï fizyky
Band 8
Heft 4
Seiten Art. Nr.: 04067
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