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Investigation of nanostructure phase composition and field emission properties in the Ge/Si(100) system

Nepijko, S. A.; Sapozhnik, A. A.; Naumovets, A. G.; Kozyrev, Yu N.; Klimenkov, M. 1; Protsenko, S. I.; Odnodvorets, L. V.; Protsenko, I. Yu
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.21272/jnep.8(4(2)).04067
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2077-6772
KITopen-ID: 1000069167
HGF-Programm 34.13.01 (POF III, LK 01) Material f.therm.,mechan.u.Umweltbelast.
Erschienen in Zurnal nano- ta elektronnoï fizyky
Verlag Sumsʹkyj Deržavnyj Univ.
Band 8
Heft 4
Seiten Art. Nr.: 04067
Nachgewiesen in Scopus
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