KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Characterization and optimization of a thin direct electron detector for fast imaging applications

Dourki, I.; Westermeier, F.; Schopper, F.; Richter, R. H.; Andricek, L.; Ninkovic, J.; Treis, J.; Koffmane, C.; Wassatsch, A.; Peric, I.; Epp, S. W.; Miller, R. J. D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1088/1748-0221/12/03/C03047
ISSN: 1748-0221
KITopen ID: 1000069257
Erschienen in Journal of Instrumentation
Band 12
Heft 3
Seiten Art.Nr.: C03047
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page