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Characterization and optimization of a thin direct electron detector for fast imaging applications

Dourki, I.; Westermeier, F.; Schopper, F.; Richter, R. H.; Andricek, L.; Ninkovic, J.; Treis, J.; Koffmane, C.; Wassatsch, A.; Peric, I. ORCID iD icon 1; Epp, S. W.; Miller, R. J. D.
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/12/03/C03047
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Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000069257
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 12
Heft 3
Seiten Art.Nr.: C03047
Nachgewiesen in Dimensions
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