Characterization and optimization of a thin direct electron detector for fast imaging applications
Dourki, I.; Westermeier, F.; Schopper, F.; Richter, R. H.; Andricek, L.; Ninkovic, J.; Treis, J.; Koffmane, C.; Wassatsch, A.; Peric, I.
1; Epp, S. W.; Miller, R. J. D.
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Epp, S. W.; Miller, R. J. D.1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000069257 |
| HGF-Programm | 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien |
| Erschienen in | Journal of Instrumentation |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 12 |
| Heft | 3 |
| Seiten | Art.Nr.: C03047 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |