Computer simulations analysis for determining the polarity of charge generated by high energy electron irradiation of a thin film

Malac, Marek; Hettler, Simon; Hayashida, Misa; Kawasaki, Masahiro; Konyuba, Yuji; Okura, Yoshi; Iijima, Hirofumi; Ishikawa, Isamu; Beleggia, Marco

doi:10.1016/j.micron.2017.03.015

Computer simulations analysis for determining the polarity of charge generated by high energy electron irradiation of a thin film

Malac, Marek; Hettler, Simon ¹; Hayashida, Misa; Kawasaki, Masahiro; Konyuba, Yuji; Okura, Yoshi; Iijima, Hirofumi; Ishikawa, Isamu; Beleggia, Marco
¹ Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1016/j.micron.2017.03.015

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2017
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0968-4328, 0047-7206, 1878-1152, 1878-4291 KITopen-ID: 1000069445
Erschienen in	Micron
Verlag	Elsevier
Band	100
Seiten	10–22
Nachgewiesen in	OpenAlex Scopus Dimensions Web of Science
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Repository KITopen

Computer simulations analysis for determining the polarity of charge generated by high energy electron irradiation of a thin film