Computer simulations analysis for determining the polarity of charge generated by high energy electron irradiation of a thin film

Malac, Marek; Hettler, Simon; Hayashida, Misa; Kawasaki, Masahiro; Konyuba, Yuji; Okura, Yoshi; Iijima, Hirofumi; Ishikawa, Isamu; Beleggia, Marco

doi:10.1016/j.micron.2017.03.015

Computer simulations analysis for determining the polarity of charge generated by high energy electron irradiation of a thin film

Malac, Marek; Hettler, Simon ¹; Hayashida, Misa; Kawasaki, Masahiro; Konyuba, Yuji; Okura, Yoshi; Iijima, Hirofumi; Ishikawa, Isamu; Beleggia, Marco
¹ Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1016/j.micron.2017.03.015

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2017
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0968-4328, 0047-7206, 1878-1152, 1878-4291 KITopen-ID: 1000069445
Erschienen in	Micron
Verlag	Elsevier
Band	100
Seiten	10–22
Nachgewiesen in	Scopus Web of Science Dimensions

Repository KITopen

Computer simulations analysis for determining the polarity of charge generated by high energy electron irradiation of a thin film