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Computer simulations analysis for determining the polarity of charge generated by high energy electron irradiation of a thin film

Malac, Marek; Hettler, Simon; Hayashida, Misa; Kawasaki, Masahiro; Konyuba, Yuji; Okura, Yoshi; Iijima, Hirofumi; Ishikawa, Isamu; Beleggia, Marco



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/j.micron.2017.03.015
ISSN: 0968-4328, 0047-7206, 1878-1152, 1878-4291
KITopen ID: 1000069445
Erschienen in Micron
Band 100
Seiten 10–22
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