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Multi-Mode SAR interferometry for high-precision DEM generation

Pinheiro, Muriel Aline



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seit 04.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0939-2963, 1434-8454
KITopen-ID: 1000070033
Erschienen in Forschungsbericht
Band 2017-January
Heft 2
Seiten 1-265
Nachgewiesen in Scopus
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