Interdependencies of Degradation Effects and Their Impact on Computing
Amrouch, Hussam 1; Van Santen, Victor M.
1; Henkel, Jörg 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Henkel, Jörg 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2168-2356 KITopen-ID: 1000070229 |
| Erschienen in | IEEE design & test |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 34 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 59-67 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus Web of Science Dimensions |