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Interdependencies of Degradation Effects and Their Impact on Computing

Amrouch, Hussam; Van Santen, Victor M.; Henkel, Jörg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/MDAT.2016.2594180
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seit 04.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2168-2356
KITopen-ID: 1000070229
Erschienen in IEEE design & test
Band 34
Heft 3
Seiten 59-67
Nachgewiesen in Scopus
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