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Knowing when you don’t: Bag of visual words with reject option for automatic visual inspection of bulk materials

Richter, Matthias 1; Langle, Thomas; Beyerer, Jürgen
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICPR.2016.7900107
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Zitationen: 4
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-4847-2
ISSN: 1051-4651
KITopen-ID: 1000070264
Erschienen in 23rd International Conference on Pattern Recognition, ICPR 2016, Cancun, Mexico, 4th - 8th December 2016
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 3079-3084
Nachgewiesen in Scopus
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