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Ortsaufgelöste optische Bestimmung von Materialanteilen in Mischungen

Bauer, Sebastian; Krippner, Wolfgang; Luo, Ding; Taphanel, Miro; Abdo, Mohammad; Badilita, Vlad; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen; Korvink, Jan; León, Fernando Puente



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-11-049429-7
KITopen ID: 1000070745
Erschienen in XXX. Messtechnisches Symposium, Hannover, 15. – 16. September 2016, Hrsg.: S. Zimmermann
Verlag De Gruyter Oldenbourg, Berlin/Boston (MA)
Seiten 69-76
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