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Ortsaufgelöste optische Bestimmung von Materialanteilen in Mischungen

Bauer, Sebastian; Krippner, Wolfgang; Luo, Ding; Taphanel, Miro; Abdo, Mohammad; Badilita, Vlad; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen; Korvink, Jan; León, Fernando Puente



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-11-049429-7
KITopen-ID: 1000070745
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in XXX. Messtechnisches Symposium, Hannover, 15. – 16. September 2016, Hrsg.: S. Zimmermann
Verlag De Gruyter Oldenbourg, Berlin/Boston (MA)
Seiten 69-76
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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