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Application of an atomic force microscope piezocantilever for dilatometry under extreme conditions

Wang, L.; Schmiedeshoff, G. M.; Graf, D. E.; Park, J.-H.; Murphy, T. P.; Tozer, S. W.; Palm, E.; Sarrao, J. L.; Cooley, J. C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1088/1361-6501/aa62e2
ISSN: 0022-3735, 0368-4253, 0368-4261, 0950-1290, 0950-7671, 0957-0233, 1361-6501
KITopen ID: 1000070836
Erschienen in Measurement science and technology
Band 28
Heft 6
Seiten Art. Nr.: 065006
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