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Machine vision: Automated visual inspection: Theory, practice and applications

Beyerer, Jürgen; León, Fernando Puente; Frese, Christian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Buch
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1007/978-3-662-47794-6
ISBN: 978-3-662-47793-9
KITopen ID: 1000070905
Verlag Springer-Verlag, Berlin / Heidelberg
Umfang 798 S.
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