KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Automatische Sichtprüfung-Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung

Beyerer, Jürgen; León, Fernando Puente; Frese, Christian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Buch
Jahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator DOI: 10.1007/978-3-662-47786-1
ISBN: 978-3-662-47785-4
KITopen ID: 1000070906
Verlag Springer-Verlag, Berlin / Heidelberg
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page