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Automatische Sichtprüfung-Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung

Beyerer, Jürgen; Puente León, Fernando; Frese, Christian


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-662-47786-1
Dimensions
Zitationen: 13
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Buch
Publikationsjahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-662-47785-4
KITopen-ID: 1000070906
Verlag Springer Verlag
Nachgewiesen in Dimensions
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