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Finding Ultrametricity in Data using Topology

Bradley, Patrick Erik



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1007/s00357-017-9228-8
ISSN: 0176-4268, 1432-1343
KITopen ID: 1000070919
Erschienen in Journal of classification
Band 34
Heft 1
Seiten 76–84
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