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Finding Ultrametricity in Data using Topology

Bradley, Patrick Erik



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00357-017-9228-8
Scopus
Zitationen: 3
Web of Science
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0176-4268, 1432-1343
KITopen-ID: 1000070919
Erschienen in Journal of classification
Band 34
Heft 1
Seiten 76–84
Nachgewiesen in Web of Science
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