Finding Ultrametricity in Data using Topology
Bradley, Patrick Erik
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1 Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF) KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0176-4268, 1432-1343 KITopen-ID: 1000070919 |
| Erschienen in | Journal of classification |
| Verlag | Springer |
| Band | 34 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 76–84 |
| Nachgewiesen in | Web of Science OpenAlex Dimensions Scopus |