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Finding Ultrametricity in Data using Topology

Bradley, Patrick Erik ORCID iD icon 1
1 Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00357-017-9228-8
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Zitationen: 7
Web of Science
Zitationen: 7
Dimensions
Zitationen: 8
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0176-4268, 1432-1343
KITopen-ID: 1000070919
Erschienen in Journal of classification
Verlag Springer
Band 34
Heft 1
Seiten 76–84
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
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