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Radiation hardness studies of AMS HV-CMOS 350nm prototype chip HVStripV1

Kanisauskas, K.; Affolder, A.; Arndt, K.; Bates, R.; Benoit, M.; Di Bello, F.; Blue, A.; Bortoletto, D.; Buckland, M.; Buttar, C.; Caragiulo, P.; Das, D.; Dopke, J.; Dragone, A.; Ehrler, F.; Fadeyev, V.; Galloway, Z.; Grabas, H.; Gregor, I. M.; Grenier, P.; ... mehr



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1088/1748-0221/12/02/P02010
ISSN: 1748-0221
KITopen ID: 1000071069
Erschienen in Journal of Instrumentation
Band 12
Seiten Art.Nr.: P02010
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