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Leveraging systematic unidirectional error-detecting codes for fast STT-MRAM cache

Sayed, N.; Oboril, F.; Bishnoi, R.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/VTS.2017.7928937
ISBN: 978-1-5090-4482-5
KITopen ID: 1000071176
Erschienen in 35th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2017, Las Vegas, United States, 9. - 12. April, 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten Art.Nr.: 7928937
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