Leveraging systematic unidirectional error-detecting codes for fast STT-MRAM cache
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5090-4482-5 KITopen-ID: 1000071176 |
| Erschienen in | 35th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2017, Las Vegas, United States, 9. - 12. April, 2017 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | Art.Nr.: 7928937 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |