Leveraging aging effect to improve SRAM-based true random number generators
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Jahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | DOI: 10.23919/DATE.2017.7927111 ISBN: 978-3-9815370-9-3 KITopen ID: 1000071179 |
| Erschienen in | 20th Design, Automation and Test in Europe, SwissTech Convention Center Swisstech, Lausanne, Switzerland, 27. - 31. March 2017 |
| Verlag | IEEE, Piscataway (NJ) |
| Seiten | 882-885 |
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