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Leveraging aging effect to improve SRAM-based true random number generators

Kiamehr, S.; Golanbari, M. S.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.23919/DATE.2017.7927111
ISBN: 978-3-9815370-9-3
KITopen ID: 1000071179
Erschienen in 20th Design, Automation and Test in Europe, SwissTech Convention Center Swisstech, Lausanne, Switzerland, 27. - 31. March 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 882-885
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