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Sayed, N.; Ebrahimi, M.; Bishnoi, R.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.23919/DATE.2017.7927049
ISBN: 978-3-9815370-9-3
KITopen ID: 1000071181
Erschienen in 20th Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017, SwissTech Convention CenterSwisstech, Lausanne, Switzerland, 27. - 31. March, 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 554-559
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