KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Opportunistic write for fast and reliable STT-MRAM

Sayed, N.; Ebrahimi, M.; Bishnoi, R.; Tahoori, M. B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/DATE.2017.7927049
Scopus
Zitationen: 3
Seitenaufrufe: 4
seit 04.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9815370-9-3
KITopen-ID: 1000071181
Erschienen in 20th Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017, SwissTech Convention CenterSwisstech, Lausanne, Switzerland, 27. - 31. March, 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 554-559
Nachgewiesen in Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page