VAET-STT: A variation aware estimator tool for STT-MRAM based memories
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9815370-9-3 KITopen-ID: 1000071183 |
| Erschienen in | 20th Design, Automation and Test in Europe, Swiss Tech Convention Center Swisstech, Lausanne, Switzerland, 27. - 31. March, 2017 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1456-1461 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |