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VAET-STT: A variation aware estimator tool for STT-MRAM based memories

Nair, S. M.; Bishnoi, R.; Golanbari, M. S.; Oboril, F.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.23919/DATE.2017.7927221
ISBN: 978-3-9815370-9-3
KITopen ID: 1000071183
Erschienen in 20th Design, Automation and Test in Europe, Swiss Tech Convention Center Swisstech, Lausanne, Switzerland, 27. - 31. March, 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1456-1461
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