Probabilistic surface inference for industrial inspection planning
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR) Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5090-4822-9 KITopen-ID: 1000071186 |
| Erschienen in | 17th IEEE Winter Conference on Applications of Computer Vision, Santa Rosa, United States, 24. - 31. March, 2017 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1008-1016 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |