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Probabilistic surface inference for industrial inspection planning

Mohammadikaji, M.; Bergmann, S.; Irgenfried, S.; Beyerer, J.; Dachsbacher, C.; Wörn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/WACV.2017.117
ISBN: 978-1-5090-4822-9
KITopen ID: 1000071186
Erschienen in 17th IEEE Winter Conference on Applications of Computer Vision, Santa Rosa, United States, 24. - 31. March, 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1008-1016
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