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Probabilistic surface inference for industrial inspection planning

Mohammadikaji, M.; Bergmann, S.; Irgenfried, S.; Beyerer, J.; Dachsbacher, C.; Wörn, H.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/WACV.2017.117
Scopus
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-4822-9
KITopen-ID: 1000071186
Erschienen in 17th IEEE Winter Conference on Applications of Computer Vision, Santa Rosa, United States, 24. - 31. March, 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1008-1016
Nachgewiesen in Scopus
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