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General Cramér-von Mises, a Helpful Ally for Transparent Object Inspection Using Deflection Maps?

Meyer, Johannes; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1007/978-3-319-59126-1_44
ISBN: 978-3-319-59125-4
ISSN: 0302-9743, 1611-3349
KITopen ID: 1000071210
Erschienen in Image Analysis : Proceedings of the 20th Scandinavian Conference (SCIA 2017) Part I, Tromso, Norway, 12-14 June 2017. Ed.: P. Sharma
Verlag Springer, Cham
Seiten 526-537
Serie Lecture notes in computer science ; 10270
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