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Verbesserung der spektroskopischen Datenbasis von H₂O für die Anwendung in bodengebundener Fernerkundung der Atmosphäre

Loos, Joep

Abstract:

Die Atmosphärenfernerkundung im Allgemeinen und die bodengebundene Fernerkundung im Besonderen sind auf hinreichend genaue Referenzmessungen der Wechselwirkung elektromagnetischer
Strahlung mit atmosphärischen Spurengasen angewiesen. Ohne die Kenntnis von Absorptionseigenschaften
und deren Temperatur- und Druckabhängigkeit ist eine Auswertung von Atmosphärenspektren
nicht sinnvoll durchführbar. Absorptionslinienparameter sind für die häufigsten
Moleküle in sogenannten spektroskopischen Datenbanken wie HITRAN oder GEISA abgelegt. Die
Genauigkeit der Parameter sowie das zugrunde liegende theoretische Linienmodell genügen jedoch
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Abstract (englisch):

Remote sensing of the atmosphere in general and ground-based remote sensing in particular depend
on sufficiently accurate reference measurements of interaction of electromagnetic radiation
and atmospheric trace gases. Without knowledge of absorption quantities and their dependence on
pressure and temperature, analysis of atmospheric spectra is not feasable. For most atmospheric
species absorption line parameters are compiled in spectroscopic databases like HITRAN or GEISA.
Nevertheless, the accuracy and the underlying theoretical line shape model are not sufficient for
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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000071293
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Meteorologie und Klimaforschung – Atmosphärische Spurenstoffe und Fernerkundung (IMK-ASF)
KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2017
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-712935
KITopen-ID: 1000071293
HGF-Programm 12.04.05 (POF III, LK 01) Trends,Variaility,Large-Scale Processes
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang XII, 189 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Institut für Meteorologie und Klimaforschung – Atmosphärische Spurenstoffe und Fernerkundung (IMK-ASF)
Prüfungsdatum 12.05.2017
Referent/Betreuer Orphal, J.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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