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Test beam performance measurements for the Phase I upgrade of the CMS pixel detector

Dragicevic, M.; Friedl, M.; Hrubec, J.; Steininger, H.; Gädda, A.; Härkonen, J.; Lampén, T.; Luukka, P.; Peltola, T.; Tuominen, E.; Tuovinen, E.; Winkler, A.; Eerola, P.; Tuuva, T.; Baulieu, G.; Boudoul, G.; Caponetto, L.; Combaret, C.; Contardo, D.; ... mehr


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000071836
Veröffentlicht am 07.03.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/12/05/P05022
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Zitationen: 5
Dimensions
Zitationen: 7
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
urn:nbn:de:swb:90-718363
KITopen-ID: 1000071836
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 12
Heft 5
Seiten Art. Nr.: P05022
Nachgewiesen in Dimensions
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