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High-Resolution Studies on Nanoscaled Ni/YSZ Anodes

Szász, Julian 1; Seils, Sascha 2; Klotz, Dino 1; Störmer, Heike 3; Heilmaier, Martin 2; Gerthsen, Dagmar 3; Yokokawa, Harumi; Ivers-Tiffée, Ellen 1
1 Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1021/acs.chemmater.7b00360
Scopus
Zitationen: 5
Web of Science
Zitationen: 4
Dimensions
Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 31.05.2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0897-4756, 1520-5002
KITopen-ID: 1000072070
HGF-Programm 49.02.08 (POF III, LK 02) Atom probe tomography
Erschienen in Chemistry of materials
Verlag American Chemical Society (ACS)
Band 29
Heft 12
Seiten 5113-5123
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
Dimensions
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