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BIM und GIS - Merkmale, Gemeinsamkeiten, Transformationen

Benner, Joachim; Geiger, Andreas; Häfele, Karl-Heinz



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2017
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000072165
HGF-Programm 35.01.01; LK 01
Erschienen in 161. DVW-Seminar: Geodäsie und BIM – Grundlagen, Datenmodelle, Anwendungen, Hamburg, 13.Juni 2017
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