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In depth nano spectroscopic analysis on homogeneously switching double barrier memristive devices

Strobel, Julian; Hansen, Mirko; Dirkmann, Sven; Neelisetty, Krishna Kanth 1; Ziegler, Martin; Haberfehlner, Georg; Popescu, Radian 2; Kothleitner, Gerald; Chakravadhanula, Venkata Sai Kiran 1; Kübel, Christian ORCID iD icon 1; Kohlstedt, Hermann; Mussenbrock, Thomas; Kienle, Lorenz
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4990145
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Zitationen: 12
Web of Science
Zitationen: 9
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Zitationen: 16
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550
KITopen-ID: 1000072216
HGF-Programm 49.02.01 (POF III, LK 02) INT-KNMF Characterisation Lab
Erschienen in Journal of applied physics
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 121
Heft 24
Seiten Art.Nr.: 245307
Nachgewiesen in Web of Science
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