In depth nano spectroscopic analysis on homogeneously switching double barrier memristive devices
Strobel, Julian; Hansen, Mirko; Dirkmann, Sven; Neelisetty, Krishna Kanth 1; Ziegler, Martin; Haberfehlner, Georg; Popescu, Radian 2; Kothleitner, Gerald; Chakravadhanula, Venkata Sai Kiran 1; Kübel, Christian
1; Kohlstedt, Hermann; Mussenbrock, Thomas; Kienle, Lorenz
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Kohlstedt, Hermann; Mussenbrock, Thomas; Kienle, Lorenz1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550 KITopen-ID: 1000072216 |
| HGF-Programm | 49.02.01 (POF III, LK 02) INT-KNMF Characterisation Lab |
| Erschienen in | Journal of applied physics |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 121 |
| Heft | 24 |
| Seiten | Art.Nr.: 245307 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |