Automatic Defect Detection by One-Class Classification on Raw Vehicle Sensor Data
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-319-60437-4 ISSN: 0302-9743, 1611-3349 KITopen-ID: 1000072271 |
| Erschienen in | ISMIS 2017 : Foundations of Intelligent Systems : 23rd International Symposium, Warsaw, Poland, 26th - 29th June 2017. Ed.: M. Kryszkiewicz |
| Verlag | Springer |
| Seiten | 378-384 |
| Serie | Lecture Notes in Computer Science ; 10352 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |