KIT | KIT-Bibliothek | Impressum
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-319-60438-1_37

Automatic Defect Detection by One-Class Classification on Raw Vehicle Sensor Data

Hofmockel, Julia; Richter, Felix; Sax, Eric



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-319-60437-4
ISSN: 0302-9743, 1611-3349
KITopen ID: 1000072271
Erschienen in ISMIS 2017 : Foundations of Intelligent Systems : 23rd International Symposium, Warsaw, Poland, 26th - 29th June 2017. Ed.: M. Kryszkiewicz
Verlag Springer, Cham
Seiten 378-384
Serie Lecture Notes in Computer Science ; 10352
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page