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Compressive shape from focus based on a linear measurement model = Komprimierte Tiefenmessung mit variablem Fokus auf Basis eines linearen Messmodells

Luo, Ding; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen



Zugehörige Institution(en) am KIT Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0171-8096, 2196-7113, 0170-575X, 0340-4021, 0340-837X, 0365-7418
KITopen ID: 1000072291
Erschienen in Technisches Messen
Band 84
Heft 7-8
Seiten 452-459
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