Impact of BTI on dynamic and static power : From the physical to circuit level

Amrouch, Hussam; Mishra, Subrat; Santen, Victor van; Mahapatra, Souvik; Henkel, Jörg

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRPS.2017.7936352

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Jahr	2017
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-5090-6640-7 KITopen-ID: 1000072835
Erschienen in	IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2017, Monterey, California, USA, 2nd - 6th April 2017
Verlag	IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten	Art. Nr. CR31-CR36
Nachgewiesen in	Scopus