Impact of BTI on dynamic and static power : From the physical to circuit level
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Jahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5090-6640-7 KITopen-ID: 1000072835 |
| Erschienen in | IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2017, Monterey, California, USA, 2nd - 6th April 2017 |
| Verlag | IEEE, Piscataway (NJ) |
| Seiten | Art. Nr. CR31-CR36 |
| Nachgewiesen in | Scopus |