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Impact of BTI on dynamic and static power : From the physical to circuit level

Amrouch, Hussam 1; Mishra, Subrat; Santen, Victor van ORCID iD icon; Mahapatra, Souvik; Henkel, Jörg 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRPS.2017.7936352
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Zitationen: 33
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Zitationen: 27
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-6640-7
KITopen-ID: 1000072835
Erschienen in IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2017, Monterey, California, USA, 2nd - 6th April 2017
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art. Nr. CR31-CR36
Nachgewiesen in Dimensions
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