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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRPS.2017.7936352

Impact of BTI on dynamic and static power : From the physical to circuit level

Amrouch, Hussam; Mishra, Subrat; Santen, Victor van; Mahapatra, Souvik; Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-6640-7
KITopen ID: 1000072835
Erschienen in IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2017, Monterey, California, USA, 2nd - 6th April 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten Art. Nr. CR31-CR36
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