Atomically resolved scanning force studies of vicinal Si(111)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) Physikalisches Institut (PHI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0163-1829, 0556-2805, 1094-1622, 1095-3795, 1098-0121, 1550-235X, 2469-9950, 2469-9969 KITopen-ID: 1000072893 |
| Erschienen in | Physical review / B |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 95 |
| Heft | 24 |
| Seiten | Art. Nr. 245412 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |