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Atomically resolved scanning force studies of vicinal Si(111)

Pérez León, Carmen; Drees, Holger; Wippermann, Stefan Martin; Marz, Michael; Hoffmann-Vogel, Regina

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.95.245412
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Zitationen: 2
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829, 0556-2805, 1094-1622, 1095-3795, 1098-0121, 1550-235X, 2469-9950, 2469-9969
KITopen-ID: 1000072893
Erschienen in Physical review / B
Band 95
Heft 24
Seiten Art. Nr. 245412
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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