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Static characterization of discrete state-of-the-art sic power transistors : Real-life properties of SiC devices unveiled

Meißer, Michael; Demattio, Horst; Blank, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-4186-1
KITopen ID: 1000073000
Erschienen in PCIM Europe 2016 : International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management 2016, Nürnberg, Germany, 10th - 12th May 2016
Verlag VDE Verlag, Berlin
Seiten 1487-1493
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