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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCSI.2017.2717790

Reliability in Super- and Near-Threshold Computing : A Unified Model of RTN, BTI, and PV [in press]

Santen, Victor M. van; Martin-Martinez, Javier; Amrouch, Hussam; Nafria, Montserrat Maqueda; Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1057-7122, 1549-8328, 1558-0806, 1558-1268
KITopen ID: 1000073038
Erschienen in IEEE transactions on circuits and systems / 1
Seiten 1-14
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