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Reliability in Super- and Near-Threshold Computing : A Unified Model of RTN, BTI, and PV

Santen, Victor M. van ORCID iD icon 1; Martin-Martinez, Javier; Amrouch, Hussam 1; Nafria, Montserrat Maqueda; Henkel, Jörg 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCSI.2017.2717790
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Zitationen: 32
Web of Science
Zitationen: 24
Dimensions
Zitationen: 39
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1057-7122, 1549-8328, 1558-0806, 1558-1268
KITopen-ID: 1000073038
Erschienen in IEEE transactions on circuits and systems / 1
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 65
Heft 1
Seiten 293-306
Vorab online veröffentlicht am 07.07.2017
Nachgewiesen in Dimensions
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