Reliability in Super- and Near-Threshold Computing : A Unified Model of RTN, BTI, and PV
Santen, Victor M. van
1; Martin-Martinez, Javier; Amrouch, Hussam 1; Nafria, Montserrat Maqueda; Henkel, Jörg 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Martin-Martinez, Javier; Amrouch, Hussam 1; Nafria, Montserrat Maqueda; Henkel, Jörg 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1057-7122, 1549-8328, 1558-0806, 1558-1268 KITopen-ID: 1000073038 |
| Erschienen in | IEEE transactions on circuits and systems / 1 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 65 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 293-306 |
| Vorab online veröffentlicht am | 07.07.2017 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science OpenAlex Dimensions |