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Superconducting fluctuations in a thin NbN film probed by the Hall effect

Destraz, Daniel; Ilin, Konstantin; Siegel, Michael; Schilling, Andreas; Chang, Johan



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829, 0556-2805, 1094-1622, 1095-3795, 1098-0121, 1550-235X, 2469-9950, 2469-9969
KITopen ID: 1000073052
Erschienen in Physical review / B
Band 95
Heft 22
Seiten Art. Nr. 224501
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