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Superconducting fluctuations in a thin NbN film probed by the Hall effect

Destraz, Daniel; Ilin, Konstantin 1; Siegel, Michael 1; Schilling, Andreas; Chang, Johan
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000073052
Veröffentlicht am 13.03.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.95.224501
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Zitationen: 15
Web of Science
Zitationen: 14
Dimensions
Zitationen: 15
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829, 0556-2805, 1094-1622, 1095-3795, 1098-0121, 1550-235X, 2469-9950, 2469-9969
urn:nbn:de:swb:90-730528
KITopen-ID: 1000073052
Erschienen in Physical review / B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 95
Heft 22
Seiten Art. Nr. 224501
Nachgewiesen in Web of Science
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