Image formation simulation for computer-aided inspection planning of machine vision systems
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000073316 |
| Erschienen in | Automated Visual Inspection and Machine Vision II - SPIE Optical Metrology, Munich, Germany, 25 - 29 June 2017. Ed.: J. Beyerer |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | 1033406 |
| Serie | SPIE Proceedings ; 10334 |
| Projektinformation | DFG, DFG EIN, WO 720/46-1 |
| Schlagwörter | Computer Aided Inspection Planning; CAIP; Machine Vision; CAD Based Vision; Automated, Optical Inspection; Computer Graphics; Rendering; Simulation |
| Nachgewiesen in | Dimensions |