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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2269166

Image formation simulation for computer-aided inspection planning of machine vision systems

Irgenfried, Stephan; Bergmann, Stephan; Mohammadikaji, Mahsa; Beyerer, Jürgen; Dachsbacher, Carsten; Wörn, Heinz



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0277-786X
KITopen ID: 1000073316
Erschienen in Automated Visual Inspection and Machine Vision II - SPIE Optical Metrology, Munich, Germany, 25 - 29 June 2017. Ed.: J. Beyerer
Verlag SPIE, Bellingham (WA)
Seiten 1033406
Serie SPIE Proceedings ; 10334
Projektinformation DFG, DFG EIN, WO 720/46-1
Schlagworte Computer Aided Inspection Planning; CAIP; Machine Vision; CAD Based Vision; Automated Optical Inspection; Computer Graphics; Rendering; Simulation
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