Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2016 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-3-11-049429-7 KITopen-ID: 1000073320 |
Erschienen in | XXX. Messtechnisches Symposium, Hannover, 15. - 16. September 2016 |
Verlag | Oldenbourg Verlag |
Seiten | 141-150 |
Projektinformation | DFG, DFG EIN, WO 720/46-1 |
Schlagwörter | Automated optical inspection, performance characterization, real-time graphical simulations, lateral resolution, measurement uncertainty, CAD-based inspection planning, prototyping |
Nachgewiesen in | Dimensions |