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Exploiting STT-MRAM for approximate computing

Sayed, Nour 1; Oboril, Fabian 1; Shirvanian, Azadeh 1; Bishnoi, Rajendra 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS.2017.7968217
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Zitationen: 10
Dimensions
Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-5457-2
ISSN: 1530-1877
KITopen-ID: 1000073440
Erschienen in 22nd IEEE Test Symposium (ETS) 2017, Limassol, Cyprus, 22nd - 26th May 2017
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art. Nr. 7968217
Serie Proceedings of the European Test Workshop
Nachgewiesen in Dimensions
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