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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS.2017.7968217

Exploiting STT-MRAM for approximate computing

Sayed, Nour; Oboril, Fabian; Shirvanian, Azadeh; Bishnoi, Rajendra; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-5457-2
ISSN: 1530-1877
KITopen ID: 1000073440
Erschienen in 22nd IEEE Test Symposium (ETS) 2017, Limassol, Cyprus, 22nd - 26th May 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten Art. Nr. 7968217
Serie Proceedings of the European Test Workshop
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