Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2017 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-5090-5457-2 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000073441 |
Erschienen in | 22nd IEEE Test Symposium (ETS) 2017, Limassol, Cyprus, 22nd - 26th May 2017 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | Art. Nr. 7968228 |
Serie | Proceedings of the European Test Workshop |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |