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Electromigration and the structure of metallic nanocontacts

Hoffmann-Vogel, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1931-9401, 0003-6951
KITopen ID: 1000073619
Erschienen in Applied physics reviews
Band 4
Heft 3
Seiten Art. Nr. 031302
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