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Electromigration and the structure of metallic nanocontacts

Hoffmann-Vogel, R.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4994691
Scopus
Zitationen: 19
Web of Science
Zitationen: 15
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1931-9401, 0003-6951
KITopen-ID: 1000073619
Erschienen in Applied physics reviews
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 4
Heft 3
Seiten Art. Nr. 031302
Nachgewiesen in Scopus
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