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Quantitative Study of LSCF and LSM-YSZ Cathode Microstructure by FIB/SEM Tomography

Wankmüller, Florian; Joos, Jochen; Meffert, Matthias; Gerthsen, Dagmar; Ivers-Tiffée, Ellen



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1938-5862, 1938-6737
KITopen ID: 1000073781
Erschienen in ECS transactions
Band 78
Heft 1
Seiten 861-867
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