KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Quantitative Study of LSCF and LSM-YSZ Cathode Microstructure by FIB/SEM Tomography

Wankmüller, Florian 1; Joos, Jochen 1; Meffert, Matthias 2; Gerthsen, Dagmar 2; Ivers-Tiffée, Ellen 1
1 Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1149/07801.0861ecst
Scopus
Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1938-5862, 1938-6737
KITopen-ID: 1000073781
Erschienen in ECS transactions
Verlag Electrochemical Society
Band 78
Heft 1
Seiten 861-867
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page