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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/IPRSN.2017.ITh1A.1

Photonic integration for metrology and sensing

Koos, C.; Freude, W.; Guber, A. E.; Hoelscher, H.; Schimmel, A.; Lauermann, M.; Schneider, S.; Weimann, C.; Muehlbrandt, S.; Harter, T.; Wondimu, S. F.; Wienhold, T.; Von Der Ecken, S.; Dietrich, P.-I.; Goering, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-55752-820-9
KITopen ID: 1000073849
HGF-Programm 43.23.02; LK 01
Erschienen in Advanced Photonics, IPRSN 2017; New Orleans; United States; 24 July 2017 through 27 July 2017
Verlag OSA - The Optical Society, Wahington (DC)
Seiten 2 S.
Serie Optics InfoBase Conference Papers ; Part F52-IPRSN 2017
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