Photonic integration for metrology and sensing
Koos, C. 1,2; Freude, W. 1,2; Guber, A. E. 2; Hoelscher, H.
2; Schimmel, A. 3; Lauermann, M. 1; Schneider, S. 1; Weimann, C. 1; Muehlbrandt, S.
1,2; Harter, T. 1,2; Wondimu, S. F. 2; Wienhold, T. 2; Von Der Ecken, S. 2; Dietrich, P.-I.; Goering, G. 3
1 Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2; Schimmel, A. 3; Lauermann, M. 1; Schneider, S. 1; Weimann, C. 1; Muehlbrandt, S.
1,2; Harter, T. 1,2; Wondimu, S. F. 2; Wienhold, T. 2; Von Der Ecken, S. 2; Dietrich, P.-I.; Goering, G. 31 Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-55752-820-9 KITopen-ID: 1000073849 |
| HGF-Programm | 43.23.03 (POF III, LK 01) Teratronics |
| Erschienen in | Advanced Photonics, IPRSN 2017; New Orleans; United States; 24 July 2017 through 27 July 2017 |
| Verlag | Optica Publishing Group (OSA) |
| Seiten | 2 S. |
| Serie | Optics InfoBase Conference Papers ; Part F52-IPRSN 2017 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |