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Photonic integration for metrology and sensing

Koos, C. 1,2; Freude, W. 1,2; Guber, A. E. 2; Hoelscher, H. ORCID iD icon 2; Schimmel, A. 3; Lauermann, M. 1; Schneider, S. 1; Weimann, C. 1; Muehlbrandt, S. ORCID iD icon 1,2; Harter, T. 1,2; Wondimu, S. F. 2; Wienhold, T. 2; Von Der Ecken, S. 2; Dietrich, P.-I.; Goering, G. 3
1 Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-55752-820-9
KITopen-ID: 1000073849
HGF-Programm 43.23.03 (POF III, LK 01) Teratronics
Erschienen in Advanced Photonics, IPRSN 2017; New Orleans; United States; 24 July 2017 through 27 July 2017
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Seiten 2 S.
Serie Optics InfoBase Conference Papers ; Part F52-IPRSN 2017
Nachgewiesen in OpenAlex
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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/IPRSN.2017.ITh1A.1
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Zitationen: 1
Seitenaufrufe: 102
seit 30.04.2018
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