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Photonic integration for metrology and sensing

Koos, C. 1,2; Freude, W. 1,2; Guber, A. E. 1; Hoelscher, H. 1; Schimmel, A. 3; Lauermann, M. 2; Schneider, S. 2; Weimann, C. 2; Muehlbrandt, S. 1,2; Harter, T. 1,2; Wondimu, S. F. 1; Wienhold, T. 1; Von Der Ecken, S. 1; Dietrich, P.-I.; Goering, G. 3
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/IPRSN.2017.ITh1A.1
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-55752-820-9
KITopen-ID: 1000073849
HGF-Programm 43.23.03 (POF III, LK 01) Teratronics
Erschienen in Advanced Photonics, IPRSN 2017; New Orleans; United States; 24 July 2017 through 27 July 2017
Verlag The Optical Society of America (OSA)
Seiten 2 S.
Serie Optics InfoBase Conference Papers ; Part F52-IPRSN 2017
Nachgewiesen in Dimensions
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