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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1140/epjc/s10052-017-5115-z

Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade

Adam, W.; Bergauer, T.; Brondolin, E.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Frühwirth, R.; Hoch, M.; Hrubec, J.; König, A.; Steininger, H.; Waltenberger, W.; Alderweireldt, S.; Beaumont, W.; Janssen, X.; Lauwers, J.; Van Mechelen, P.; Van Remortel, N.; Van Spilbeeck, A.; Beghin, D.; Brun, H.; ... mehr



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1434-6044, 1434-6052
KITopen ID: 1000074077
Erschienen in The European physical journal / C
Band 77
Heft 8
Seiten Art. Nr. 567
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