KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade

Adam, W.; Bergauer, T.; Brondolin, E.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Frühwirth, R.; Hoch, M.; Hrubec, J.; König, A.; Steininger, H.; Waltenberger, W.; Alderweireldt, S.; Beaumont, W.; Janssen, X.; Lauwers, J.; Mechelen, P. Van; Van Remortel, N.; Van Spilbeeck, A.; Beghin, D.; ... mehr


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000074077
Veröffentlicht am 27.11.2017
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1140/epjc/s10052-017-5115-z
Scopus
Zitationen: 4
Web of Science
Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 4
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1434-6044, 1434-6052
urn:nbn:de:swb:90-740776
KITopen-ID: 1000074077
Erschienen in The European physical journal / C
Verlag Springer-Verlag
Band 77
Heft 8
Seiten Art. Nr. 567
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch SCOAP3
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page