Assessment of NBTI in Presence of Self-Heating in High-k SOI FinFETs
Monga, Udit; Khandelwal, Sourabh; Aghassi, Jasmin
; Sedlmeir, Josef; Fjeldly, Tor A.
; Sedlmeir, Josef; Fjeldly, Tor A.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0741-3106, 1558-0563 KITopen-ID: 1000074291 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF II, LK 01) |
| Erschienen in | IEEE electron device letters |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 33 |
| Heft | 11 |
| Seiten | 1532–1534 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |