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Assessment of NBTI in Presence of Self-Heating in High-k SOI FinFETs

Monga, Udit; Khandelwal, Sourabh; Aghassi, Jasmin; Sedlmeir, Josef; Fjeldly, Tor A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0741-3106, 1558-0563
KITopen ID: 1000074291
HGF-Programm 43.22.03; LK 01
Erschienen in IEEE electron device letters
Band 33
Heft 11
Seiten 1532–1534
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