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Gas-pressure infiltrated Al-based MMC with Ni60Nb20Ta20 metallic glass: Characterization by analytical Transmission electron microscopy

Szabó, Dorotheé Vinga; Lichtenberg, Klaudia; Schlabach, Sabine; Weidemann, Kay André



Zugehörige Institution(en) am KIT Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Poster
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000074469
HGF-Programm 34.13.01; LK 01
Erschienen in 16th International Conference on Rapidly Quenched and Metasstable Materials (RQ16), Leoben, A , 27.08.- 01.09.2017
Schlagworte Metal Matrix Composites, Ni60Nb20Ta20 Metallic Glass, Interface, Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM), Focused Ion Beam (FIB), Energy Dispersive X-ray Analysis (EDX)
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