Thin-film phase plates for transmission electron microscopy fabricated from metallic glass alloys

Dries, M.; Obermair, M.; Hettler, S.; Hermann, P.; Seemann, K.; Seifried, F.; Ulrich, S.; Gerthsen, D.

Seitenaufrufe: 120
seit 25.04.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2017
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000074494
HGF-Programm	43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Veranstaltung	Microscopy Conference 2017, Lausanne, CH, August 21-25, 2017