KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Thin-film phase plates for transmission electron microscopy fabricated from metallic glass alloys

Dries, M.; Obermair, M.; Hettler, S.; Hermann, P.; Seemann, K. ORCID iD icon; Seifried, F.; Ulrich, S.; Gerthsen, D.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000074494
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Veranstaltung Microscopy Conference 2017, Lausanne, CH, August 21-25, 2017
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page