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Thin-film phase plates for transmission electron microscopy fabricated from metallic glass alloys

Dries, M.; Obermair, M.; Hettler, S.; Hermann, P.; Seemann, K.; Seifried, F.; Ulrich, S.; Gerthsen, D.

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Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000074498
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in Microscopy Conference 2017, Lausanne, CH, August 21-25, 2017. Proceedings published online
Verlag SwissTech Convention Center, Lausanne
Seiten 754-755
Externe Relationen Konferenz
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