Thin-film phase plates for transmission electron microscopy fabricated from metallic glass alloys
Dries, M.; Obermair, M.; Hettler, S.; Hermann, P.; Seemann, K.
; Seifried, F.; Ulrich, S.; Gerthsen, D.
; Seifried, F.; Ulrich, S.; Gerthsen, D.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000074498 |
| HGF-Programm | 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design |
| Erschienen in | Microscopy Conference 2017, Lausanne, CH, August 21-25, 2017. Proceedings published online |
| Verlag | SwissTech Convention Center |
| Seiten | 754-755 |
| Externe Relationen | Konferenz |