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Optical determination of material abundances by using neural networks for the derivation of spectral filters

Krippner, Wolfgang 1; Wagner, Felix 1; Bauer, Sebastian 1; Puente León, Fernando 1
1 Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2270237
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-1113-9
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000074943
Erschienen in Automated Visual Inspection and Machine Vision II, München, 29. Juni. Ed.: J. Beyerer
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Seiten Art. Nr.: 1033408
Serie Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering ; 10334
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