| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-1113-9 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000074943 |
| Erschienen in | Automated Visual Inspection and Machine Vision II, München, 29. Juni. Ed.: J. Beyerer |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | Art. Nr.: 1033408 |
| Serie | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering ; 10334 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus Dimensions |
| Relationen in KITopen |