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Optical determination of material abundances by using neural networks for the derivation of spectral filters

Krippner, Wolfgang; Wagner, Felix; Bauer, Sebastian; Puente León, Fernando



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2270237
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Zitationen: 2
Seitenaufrufe: 3
seit 04.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-1113-9
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000074943
Erschienen in Automated Visual Inspection and Machine Vision II, München, 29. Juni. Ed.: J. Beyerer
Verlag SPIE, Bellingham, WA
Seiten Art. Nr.: 1033408
Serie Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering ; 10334
Nachgewiesen in Scopus
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