Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2017 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-5106-1113-9 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000074943 |
Erschienen in | Automated Visual Inspection and Machine Vision II, München, 29. Juni. Ed.: J. Beyerer |
Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
Seiten | Art. Nr.: 1033408 |
Serie | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering ; 10334 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |
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