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Optical determination of material abundances by using neural networks for the derivation of spectral filters

Krippner, W.; Wagner, F.; Bauer, S.; Puente León, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-1113-9
ISSN: 0277-786X
KITopen ID: 1000074943
Erschienen in Automated Visual Inspection and Machine Vision II; Munich; Germany; 29 June 2017 through. Ed.: J. Beyerer
Verlag SPIE, Bellingham (WA)
Seiten Art. Nr.: 1033408
Serie Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering ; 10334
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