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Suppression of contrast-related artefacts in phase-measuring structured light techniques

Burke, Jan; Zhong, Liang



Zugehörige Institution(en) am KIT Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-1103-0
ISSN: 0277-786X
KITopen ID: 1000074961
Erschienen in Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X 2017, Munich, Germany, 26th - 29th June 2017. Ed.: P. Lehmann
Verlag SPIE, Bellingham (WA)
Seiten Art.Nr. 103290T
Serie Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering ; 10329
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