Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2017 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-5108-4475-9 KITopen-ID: 1000074962 |
Erschienen in | 1st World Congress on Condition Monitoring 2017, WCCM 2017; ILEC Conference CentreLondon; United Kingdom; 13 June 2017 through 16 June 2017. Volume 1 of 3 |
Verlag | British Institute of Non-Destructive Testing |
Seiten | 83-94 |
Nachgewiesen in | Scopus |