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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2017.2760861

VAET-STT: Variation Aware STT-MRAM Analysis and Design Space Exploration Tool [in press]

Nair, S. M.; Bishnoi, R.; Golanbari, M. S.; Oboril, F.; Hameed, F.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen ID: 1000076390
Erschienen in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
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