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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2017.2760861

VAET-STT : Variation Aware STT-MRAM Analysis and Design Space Exploration Tool [in press]

Nair, Sarath Mohanachandran; Bishnoi, Rajendra; Golanbari, Mohammad Saber; Oboril, Fabian; Hameed, Fazal; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen ID: 1000076390
Erschienen in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Vorab online veröffentlicht am 06.10.2017
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