VAET-STT : Variation Aware STT-MRAM Analysis and Design Space Exploration Tool
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0278-0070, 1937-4151 KITopen-ID: 1000076390 |
| Erschienen in | IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 37 |
| Heft | 7 |
| Seiten | 1396-1407 |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | 2018 online veröffentlicht |
| Vorab online veröffentlicht am | 06.10.2017 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |