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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1742-6596/888/1/012229

Monitoring the KATRIN source properties within the beamline

Ellinger, E.; Haußmann, N.; Helbing, K.; Hickford, S.; Klein, M.; Naumann, U.



Zugehörige Institution(en) am KIT Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1742-6588, 1742-6596
KITopen ID: 1000076656
Erschienen in Journal of physics / Conference Series
Band 888
Heft 1
Seiten Art.Nr. 012229
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