Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2017 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-5386-0351-2 KITopen-ID: 1000076658 |
Erschienen in | IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2017, Thessaloniki, Greece, 3rd - 5th July 2017 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 233-236 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |